| Analizador de plan de muestreo para evaluar y seleccionar planes de muestreo de aceptación. |
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Analizador de plan de muestreo Clasificación y resumen
- Nombre del editor:
- Taylor Enterprises, Inc.
- Sistemas operativos:
- Windows XP/2000/98/Me/NT
- Tamaño del archivo:
- 1.47MB
Analizador de plan de muestreo Etiquetas
Analizador de plan de muestreo Descripción
Anuncio publicitario Sampling Plan Analizzer es un software de negocios desarrollado por Taylor Enterprises, Inc. Después de nuestra prueba y prueba, se demuestra que el software sea oficial, seguro y gratuito. Aquí está la descripción oficial para el analizador de planes de muestreo: El analizador del plan de muestreo es un paquete de software de shareware para evaluar y seleccionar los planes de muestreo de aceptación. Se utilizan planes de muestreo intencional de aceptación para hacer que las decisiones de disposición del producto (aceptar / rechazar) en la fabricación. También se utilizan para hacer una decisión de aprobación / falla al validar el proceso. Puede tomar un plan de muestreo existente y usar el software para evaluarlo, incluido el cálculo y la visualización de las curvas de OC, AQL, LTPD, AOQL, ASN CURVES y mucho más. También especifica la protección deseada y el programa generará una lista de los planes de muestreo que podrían usarse. Capacidades Puede ingresar alguno de los siguientes tipos de planes de muestreo: Para unidades defectuosas: Plan de muestreo único Plan de muestreo doble Plan de muestreo múltiple Plan ANSI Z1.4 (Reemplazo para MIL-STD-105E) Planes de muestreo de variables para desviación estándar conocidas y desconocidas, 1 o 2 límites de especificación, tanto para los métodos M como K. Plan ANSI Z1.9 (Reemplazo para MIL-STD-414) Para defectos por unidad: Plan de muestreo único Plan de muestreo doble Plan de muestreo múltiple Plan ANSI Z1.4 (Reemplazo para MIL-STD-105E) Para los defectos por cantidad: Plan de muestreo único Plan de muestreo doble Plan de muestreo múltiple Calcula y pantallas: Característica de funcionamiento (OC) Curva AQL, LTPD y otros percentiles de la curva de OC Número de muestra promedio (ASN) curva Curva de etapas de número esperado (ENS) Curva media de calidad saliente (AOQ) Límite promedio de calidad saliente (AOQL) Información que describe la protección durante los períodos de cambio de calidad para los planes de ANSI Z1.4 y ANSI Z1.9. Selecciona los planes de muestreo basados en curvas de OC y percentiles de los siguientes planes de muestreo Para unidades defectuosas: Plan de muestreo único Plan de muestreo doble Planes de muestreo de variables para desviación estándar conocidos y desconocidos y 1 o 2 límites de especificación Para defectos por unidad: Plan de muestreo único Plan de muestreo doble
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