Gallina WaferMap se utiliza para analizar y visualizar los parámetros en las obleas de semiconductores.
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WaferMap es un paquete de software premiado que se usa para recopilar, editar, analizar y visualizar los parámetros físicos medidos en obleas de semiconductores. WaferMap puede importar archivos de datos de varias herramientas de metrología, como elipsómetros, medidores de espesor y sondas de cuatro puntos. Los datos importados se pueden visualizar o imprimir como escaneos de línea, parcelas de contorno, parcelas 2D o 3D o como histograma. Escribe una reseña sobre este programa

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