Maud Una herramienta útil para analizar materiales y texturas
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Maud Clasificación y resumen

Maud Etiquetas

analizador difracción reflectividad Análisis de difracción

Maud Descripción

Maud significa análisis de materiales utilizando difracción. Es un programa general de análisis de difracción / reflectividad, principalmente basado principalmente en el método Rietveld, pero no se limita a. Gracias al hecho de que está completamente escrito en el lenguaje de programación de Java, debería poder ejecutar sin esfuerzo Maud en una variedad de sistemas. Principales características: Fácil de usar, cada acción está controlada por una GUI trabaja con rayos X, sincrotrón, neutrón, TOF Desarrollado para el análisis de Rietveld, espectros múltiples simultáneos y diferentes instrumentos / técnicas compatibles con Integración de soluciones de estructura AB-Initio, desde el hallazgo máximo, indexación para resolver Diferentes algoritmos de optimización disponibles (LS, evolutivos, recocidos simulados, metadamics) LE FACTING Análisis de fase cuantitativa Análisis de microestructura (tamaño-tensión, anisotropía y distribuciones incluidas) Textura y análisis de estrés residual usando piezas o espectros completos MEEM y ALGORITMO SUPERFLIP PARA MAPOS DE DENSA DE ELECTRÓN Y AJUSTE película delgada y multicapa consciente; Modelos de espesor de película y absorción Reflectividad que se ajusta por diferentes modelos, desde Parratt (Matrix) a la aproximación discreta nacida trabaja con imágenes de difracción de TEM y dispersión de electrones Varios archivos de datos Formatos de entrada funciona e imágenes de entrada de detectores 2D (platos de imagen, CCD) CIF Cumplimiento para la entrada / salida; Estructuras de importación de bases de datos

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