| AutoPano-Sift-C AutoPano-SIFT-C - Implementación de detección de características. |
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AutoPano-Sift-C Clasificación y resumen
- Nombre del editor:
- Sebastian Nowozin
AutoPano-Sift-C Etiquetas
AutoPano-Sift-C Descripción
AutoPano-SIFT-C - Implementación de detección de características. El algoritmo de detección de características de tamiz ha sido inventado y publicado por David Lowe en la Universidad de Columbia Británica. El algoritmo proporciona la capacidad de identificar los puntos clave de las características clave dentro de las imágenes. Además, extrae información muy distinta para cada punto de este tipo y permite caracterizar el punto invariante a una serie de modificaciones a la imagen. Es invariante de cambios en contraste / brillo, a rotación, escalado y parcialmente invariante a otros tipos de transformaciones. El algoritmo se puede usar de manera flexible para crear datos de entrada para la coincidencia de imágenes, la identificación de objetos y otros algoritmos relacionados con la visión de la computadora. El uso del algoritmo de tamiz para la creación de panorama automático ha sido desarrollado por Matthew Brown y David Lowe en su papel "reconocer panoramas". Novedades en esta versión: · Esta versión contiene muchos errores y mejoras de velocidad, más soporte para la identificación de características en el espacio conforme.
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