Cristaldiffract para Mac OS X Resumen detallado de datos cristalográficos y datos de difracción.
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Cristaldiffract para Mac OS X Clasificación y resumen

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Cristaldiffract para Mac OS X Descripción

Anuncio publicitario Crystaldiffract for Mac OS X es un software de hogar y educación desarrollado por Crystalmaker Software Ltd. Después de nuestra prueba y prueba, se demuestra que el software sea oficial, seguro y gratuito. Aquí está la descripción oficial de Crystaldiffract para Mac OS X: La versión completa de CrystaldFfract proporciona una amplia gama de herramientas versátiles y potentes, con un excelente diseño de facilidad de uso y un diseño de interfaz elegante. Cualquier persona con datos de difracción reales encontrará cristaldiffract invaluable para el análisis de datos, sin mencionar el trabajo mundano de los picos de difracción de indexación. La capacidad de simular mezclas hace que sea fácil probar los conjuntos múltiples, ¿y incluso puede estimar las proporciones de fase al ajustar las fracciones de volumen para sus componentes individuales en tiempo real? La nueva difracción CrystaldFfract va más allá de la difracción tradicional de rayos X de laboratorio, con la capacidad de simular la difracción de las últimas fuentes de rayos X de sincrotrón (difracción dispersiva de energía de radiación blanca), así como fuentes de eliminación de neutrones de resolución ultra alta (difracción de tiempo de vuelo ). Analizando datos experimentales. Crystaldiffract le permite importar múltiples conjuntos de datos experimentales (XY) para comparar con datos simulados. Puede verificar sus datos experimentales para las fases de impureza u otras anomalías, o incluso intentar identificar una fase desconocida utilizando una coincidencia de datos observados y calculados (la lista de estructuras le permite escanear rápidamente una lista de fases ideales, en relación con los datos observados ). Puede exportar una amplia gama de tipos de datos, incluyendo: Resumen detallado de datos cristalográficos y datos de difracción (incluye valores HKL, espaciamiento D, valor X, intensidad, intensidad relativa, multiplicidad, etc.) Datos de difracción ordenados a la medida (navega por sus datos en pantalla, aplique su criterio de clasificación elegido, luego guarde el conjunto de datos en el archivo) Factores de estructura (partes reales e imaginarias). El perfil de difracción (listado X, Y delimitado por TAB) se puede cargar fácilmente por otros programas de gráficos / hoja de cálculo. El intervalo X definido por el usuario le permite especificar la salida de alta resolución. Los perfiles seleccionados multiplicados también pueden ser exportados (x, y1, y2, y3).

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